์ด ๋ฌธ์„œ์˜ ์›๋ณธ์€ ์™ธ๋ถ€ ์œ„ํ‚ค์—์„œ ๊ฐ€์ ธ์™”์Šต๋‹ˆ๋‹ค.
1. ํ†ต๊ณ„ํ•™ ์šฉ์–ด2. ์ฃผ์‚ฌ์‹ ์ „์ž ํ˜„๋ฏธ๊ฒฝ3. S.E.M

1. ํ†ต๊ณ„ํ•™ ์šฉ์–ด[ํŽธ์ง‘]

  • ๊ธฐ์ดˆํ†ต๊ณ„ํ•™์—์„œ, SEM์ด๋ž€ ํ‰๊ท ์˜ ํ‘œ์ค€์˜ค์ฐจ(standard error of the mean)์˜ ์•ฝ์ž์ด๋‹ค. ๋•Œ๋กœ SEM ํ˜น์€ SEMean ์œผ๋กœ ํ‘œ๊ธฐํ•˜๊ธฐ๋„ ํ•œ๋‹ค.
  • ์‘์šฉํ†ต๊ณ„ํ•™์—์„œ, SEM์ด๋ž€ ๊ตฌ์กฐ๋ฐฉ์ •์‹ ๋ชจํ˜•(structural equation modeling)์˜ ์•ฝ์ž์ด๋‹ค.

2. ์ฃผ์‚ฌ์‹ ์ „์ž ํ˜„๋ฏธ๊ฒฝ[ํŽธ์ง‘]

Scanning Electron Microscopy

ํ˜„๋ฏธ๊ฒฝ์˜ ์ผ์ข…์œผ๋กœ, ์ง„๊ณต์— ๋†“์ธ ์‹œ๋ฃŒ์˜ ํ‘œ๋ฉด์„ 1~100 nm์˜ ์ „์ž์„ ์œผ๋กœ ๊ด€์ธกํ•˜๋Š” ํ˜„๋ฏธ๊ฒฝ์ด๋‹ค. 1965๋…„ ์ตœ์ดˆ๋กœ ์ƒํ’ˆํ™”๋˜์—ˆ๋‹ค. SEM์€ ์—ฐ๊ตฌ๊ฐœ๋ฐœ๋ฟ๋งŒ ์•„๋‹ˆ๋ผ ์ฒจ๋‹จ์žฅ๋น„์˜ ํ’ˆ์งˆ๊ด€๋ฆฌ์—๋„ ์œ ์šฉํ•˜๊ฒŒ ์‚ฌ์šฉ๋˜๊ณ  ์žˆ๋‹ค.

SEM์˜ ์ปฌ๋Ÿผ๋ถ€๋Š” ์ „์ž์ด, ์ง‘์†๋ Œ์ฆˆ์™€ ๋Œ€๋ฌผ๋ Œ์ฆˆ, ์ฃผ์‚ฌ์ฝ”์ผ๋กœ ๊ตฌ์„ฑ๋˜์–ด ์žˆ๋‹ค. ์ „์ž์ด์€ ์ „์ž๋น”์„ ๋ฐœ์ƒ์‹œํ‚ค๊ณ  ๊ฐ€์†์‹œํ‚ค๋Š” ๋ถ€๋ถ„, ์ง‘์†๋ Œ์ฆˆ์™€ ๋Œ€๋ฌผ๋ Œ์ฆˆ๋Š” ์ „์ž๋น”์„ ๊ฐ€๋Š˜๊ฒŒ ๋ชจ์•„์ฃผ๋Š” ๋ถ€๋ถ„, ์ฃผ์‚ฌ์ฝ”์ผ์€ ์ „์ž๋น”์˜ ๊ฒฝ๋กœ๋ฅผ ์กฐ์ ˆํ•˜๋Š” ๋ถ€๋ถ„์ด๋‹ค. [1]

3. S.E.M[ํŽธ์ง‘]

์„œ๋ธŒ์ปฌ์ฒ˜์˜ ์•„์ด๋Œ๋งˆ์Šคํ„ฐ ๊ด€๋ จ ๊ฐœ๋…. ํ•ด๋‹น ๋ฌธ์„œ ์ฐธ์กฐ
[1] ์ถœ์ฒ˜ (2010, ์ฃผ์‹ํšŒ์‚ฌ ์ฝ”์…ˆ ๋ถ€์„ค์—ฐ๊ตฌ์†Œ)